Studio sulle potenzialità della Spettrofotometria UV -Visibile in Riflettanza Diffusa nella caratterizzazione di materiali inorganici di interesse artistico-archeologico.

Lo scopo del presente lavoro è di indagare le potenzialità della Spettrofotometria in Riflettanza Diffusa (FORS) nello studio di materiali inorganici.
La Spettrofotometria in Riflettanza è la tecnica di indagine ottica basata sulla misura del fattore di riflettanza spettrale R di una superficie colorata, in funzione della lunghezza d’onda della radiazione incidente.
I campioni analizzati sono stati smalti champlevé, smalti cloisonné, vetri e gemme presenti in manufatti orafi medievali e in gioielli di provenienza famigliare.
E’ stata scelta la tecnica FORS poichè non è invasiva e permette di svolgere le analisi in situ, requisiti fondamentali per le analisi di Beni Culturali. In più, escludendo un limitato numero di eccezioni, gli oggetti di indagine nel campo dei Beni Culturali sono opachi, per cui non è possibile misurare la quantità di radiazione assorbita dagli stessi ma, al contrario, è necessario registrare lo spettro della radiazione diffusa dalla superficie del campione.
Mentre la letteratura offre numerosi dati riguardanti l’applicazione della Spettrofotometria a Riflettanza Diffusa ai pigmenti, il mio lavoro sulla caratterizzazione di materiali inorganici tramite FORS ha indagato un ambito ancora poco trattato. Sono state testate, quindi, le capacità della tecnica nel distinguere i sistemi cromofori responsabili delle differenti colorazioni di smalti, vetri e gemme, con l’intento di giungere a spiegare come queste diversità influenzino gli spettri elettronici ottenuti. Nel presente lavoro ci si è limitati a sottolineare queste diversità, senza indagare il perché della loro esistenza.
L’elaborazione dei dati ottenuti dagli spettri FORS è stata effettuata tramite metodi multivariati e l’uso del software Unscrambler ha permesso di raggruppare i differenti campioni in base ai sistemi cromofori che li caratterizzano e in base all’epoca di produzione del manufatto.
Se si renderà necessaria in futuro una maggiore precisione e dati a livello elementari, sarà opportuno sottoporre i medesimi campioni ad analisi XRF.