Sviluppo di procedura automatica di calibrazione di schede elettroniche in LabVIEW

Introduzione Le applicazioni dell’elettronica nel mondo contemporaneo sono notevoli e sempre più diffuse: basti pensare a tutti gli oggetti che si utilizzano quotidianamente dagli elettrodomestici ai PC fino ai congegni utilizzati nel campo dell’automotive. E’ evidente che i dispositivi che vanno a costituire questi sistemi dovranno rispettare alcune importanti specifiche e rispondere a delle caratteristiche tecniche che ne garantiscano il corretto funzionamento. Per questo motivo, prima di essere utilizzati e commercializzati, questi dispositivi dovranno essere opportunamente controllati. A questo scopo esistono procedure ed operazioni che dovranno essere seguite per giungere ad un risultato soddisfacente e che guidano il dispositivo attraverso vari step posti in cascata che procedono ognuno ad una scrematura. Una delle operazioni fondamentali facente parte di questa cascata di processi per testare il dispositivo e che portano a scartarlo o meno da una eventuale installazione su un sistema è il burn-in. Nel burn-in il dispositivo da testare viene stressato ed indotto ad un invecchiamento precoce: dopo questa operazione viene analizzato e se rispetta ancora determinate specifiche viene fatto passare agli step successivi, altrimenti viene scartato. Il processo di burn-in viene controllato attraverso sofisticati sistemi che devono anch’essi rispettare delle specifiche onde evitare malfunzionamenti e risultati non conformi. Nello specifico la EDA Industries ha sviluppato dei sistemi che adempiono a diversi tipi di burn- in. Nella presente trattazione viene fatta una panoramica generale su tali sistemi, focalizzando l’attenzione sul sistema UBTS (Universal Burn-in and Test System). Per una buona riuscita del burn-in è necessario che il sistema che va a controllare ed implementare questa procedura funzioni correttamente. La PTDM (Pattern Test Driver 5