Materiali nano strutturati per schermature elettromagnetiche

Nel microscopio elettronico a trasmissione o TEM (Transmission Electron Microscope) gli elettroni che costituiscono il fascio, attraversano una sezione dove e stato creato precedentemente il vuoto, per poi passare completamente attraverso il campione. Questo, dunque, deve avere uno spessore estrema- mente ridotto, compreso tra 50 e 500 nm. Il potere di risoluzione (la minima distanza fra due punti per la quale si possono distinguere come tali e non come uno solo) e di circa 0,2 nm.
Questo tipo di microscopio e fornito, lungo l'asse elettro-ottico, di complessi sistemi che utilizzando la modificazione di campi elettrici e magnetici, sono in
grado di pilotare gli elettroni attraverso lenti magnetiche necessarie ad allargare considerevolmente il fascio di elettroni gia passati attraverso il campione per far si che l'immagine risulti ingrandita.
Il campione consiste in sezioni, come si e detto, molto sottili, appoggiate su di un piccolo dischetto in rame o nichel (del diametro di pochi millimetri) fenestrato di solito a rete (retino) in modo che la sezione possa essere osservata tra le sue maglie senza interposizione di vetro (come avviene nel microscopio ottico) che non sarebbe attraversato dagli elettroni (Questi ultimi infatti non possono attraversare materiali spessi).
Il fascio di elettroni colpisce uno schermo fluorescente (sensibile agli stessi) proiettando su di esso un'immagine reale e fortemente ingrandita della porzione di campione precedentemente attraversata.
Dato che il potere di risoluzione di un microscopio e inversamente proporzionale alla lunghezza d'onda della radiazione che utilizza, usando elettroni si raggiunge una risoluzione parecchi ordini di grandezza superiore.