Caratterizzazione metrologica di una scheda acquisizione dati a 16 bit

Contatta l'autore »

Giuseppe Cianetti

• Autore della tesi: Caratterizzazione metrologica di una scheda acquisizione dati a 16 bit ≫

Studi

• Laurea in Ingegneria Elettronica
  conseguita presso Università degli Studi di Perugia nell'anno 1996-97
  con una votazione di 102 su 110
  sostendendo i seguenti esami:

  Materia		Voto
  Microonde		30
  Elettronica I		24
  Elettronica II		25
  Comunicazioni elettriche		29
  Azionamenti industriali		30
  Controlli automatici		27
  Optoeletronica		30
  Dispositivi elettronici		29
  Campi elettromagnetici		24
  Onde millimetriche		30
  Elettrotecnica		27
  Misure elettriche		27
  Fisica III		27
  Calcolatori elettronici		28

• Diploma di maturità conseguito presso il Istituto tecnico
  con votazione 50/60°

Lingue straniere

• Inglese parlato e scritto: ottimo

Conoscenze informatiche

• Livello ottimo